HVUα_3000V3000V離子遷移試驗(yàn)裝置
3000V離子遷移試驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1 ~1000 小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION ), 并記錄電阻值變化狀況。在高溫高濕條件下,對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測(cè)試電阻值,也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。$n適用規(guī)格 : JPCA- - ET01-
更新時(shí)間:2024-05-14 訪問(wèn)量:1405 型號(hào):HVUα_3000V
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